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控制系统性能评估中干扰通道模型选择的研究 |
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论文目录 |
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致谢 | 第1-6页 | 摘要 | 第6-8页 | ABSTRACT | 第8-10页 | 目录 | 第10-13页 | 术语表 | 第13-15页 | 第一章 绪论 | 第15-23页 | ·引言 | 第15页 | ·控制系统性能指标 | 第15-17页 | ·确定性能指标 | 第15-16页 | ·随机性能指标 | 第16-17页 | ·鲁棒性能指标 | 第17页 | ·性能评估综述 | 第17-20页 | ·历史回顾与最新进展 | 第18-19页 | ·软件与工程应用 | 第19页 | ·国内研究现状 | 第19-20页 | ·课题研究的意义 | 第20页 | ·工作内容 | 第20-23页 | 第二章 性能评估理论基础 | 第23-33页 | ·引言 | 第23页 | ·最小方差控制律 | 第23-26页 | ·性能评估方法 | 第26-29页 | ·ARMA算法 | 第26-27页 | ·FCOR算法 | 第27-28页 | ·自相关分析 | 第28-29页 | ·应用步骤 | 第29页 | ·仿真实验 | 第29-31页 | ·注意事项 | 第31-32页 | ·小结 | 第32-33页 | 第三章 单变量过程性能评估中干扰通道模型的选择 | 第33-45页 | ·引言 | 第33页 | ·样本长度的选取 | 第33-34页 | ·典型工业过程的最小方差控制器 | 第34-36页 | ·典型工业过程仿真实验 | 第36-41页 | ·Eriksson示例及扩展 | 第36页 | ·一阶加纯滞后过程 | 第36-38页 | ·二阶加纯滞后过程 | 第38-39页 | ·积分加纯滞后过程 | 第39-41页 | ·结果分析与解释 | 第41页 | ·进一步的分析与解释 | 第41-43页 | ·小结 | 第43-45页 | 第四章 多变量过程性能评估中干扰通道模型的选择 | 第45-55页 | ·引言 | 第45页 | ·理论基础 | 第45-47页 | ·四水槽关联实验装置 | 第47-48页 | ·三种类型的干扰信号 | 第48-49页 | ·干扰通道模型对PID控制器性能评估结果的影响 | 第49-51页 | ·DMC控制器性能评估 | 第51-52页 | ·最小方差基准的不充分性 | 第52-53页 | ·小结 | 第53-55页 | 第五章 总结与展望 | 第55-57页 | ·总结 | 第55页 | ·展望 | 第55-57页 | 参考文献 | 第57-63页 | 附录1 正态分布与白噪声 | 第63-64页 | 附录1.1 正态分布 | 第63页 | 附录1.2 白噪声 | 第63-64页 | 附录2 Box-Jenkins时间序列分析 | 第64-65页 | 附录3 酉关联矩阵计算 | 第65-67页 | 作者简历 | 第67页 |
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