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12bit高速流水线ADC数字校正技术的研究 |
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| 论文目录 |
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| 摘要 | 第1-5页 | | Abstract | 第5-9页 | | 第1章 绪论 | 第9-14页 | | ·课题研究的意义 | 第9-10页 | | ·课题研究现状和发展趋势 | 第10-12页 | | ·论文的结构及创新点 | 第12-14页 | | 第2章 模数转换器性能分析 | 第14-31页 | | ·模数转换器的分类 | 第14-19页 | | ·FLASH ADC | 第14-15页 | | ·逐次逼近型 ADC | 第15-17页 | | ·Sigma-delta ADC | 第17-18页 | | ·流水线 ADC | 第18-19页 | | ·ADC 性能参数的介绍 | 第19-21页 | | ·DNL&INL | 第19-20页 | | ·SNR | 第20页 | | ·THD | 第20-21页 | | ·SNDR | 第21页 | | ·SFDR | 第21页 | | ·ENOB | 第21页 | | ·流水线 ADC 中的非理想因素 | 第21-31页 | | ·Sub-ADC 中的误差 | 第22页 | | ·热噪声 | 第22-23页 | | ·开关引入的误差 | 第23-26页 | | ·Op-Amp 的有限增益 | 第26-27页 | | ·运放的有限带宽 | 第27-29页 | | ·电容的失配 | 第29-31页 | | 第3章 双伪随机扰动校正算法 | 第31-47页 | | ·流水线 ADC 校正算法简介 | 第31-33页 | | ·Spit-ADC | 第31页 | | ·低速高精度 ADC | 第31页 | | ·Skip&Fill | 第31-32页 | | ·GEC | 第32页 | | ·Reference Scaling | 第32-33页 | | ·增益误差中三阶扰动的校正 | 第33页 | | ·MDAC 中误差 | 第33-35页 | | ·双伪随机扰动校正算法 | 第35-40页 | | ·伪随机测试信号的注入 | 第36-38页 | | ·伪随机测试信号幅值的调制 | 第38-39页 | | ·动态元件匹配 | 第39-40页 | | ·数字校正过程 | 第40-41页 | | ·建模及仿真结果 | 第41-47页 | | 第4章 电路设计部分 | 第47-61页 | | ·电路指标的计算 | 第47-52页 | | ·运算放大器指标的计算 | 第47-48页 | | ·采样电容及其缩减因子的确定 | 第48-52页 | | ·电路部分的设计 | 第52-61页 | | ·Gain-boosting 运算放大器 | 第52-55页 | | ·S/H 电路模块 | 第55-57页 | | ·Sub-ADC 电路的设计 | 第57-59页 | | ·Clock generator | 第59-61页 | | 第5章 总结与展望 | 第61-62页 | | 参考文献 | 第62-65页 | | 作者简介及攻读硕士期间发表文章 | 第65-66页 | | 致谢 | 第66页 |
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论文编号BS54268，这篇论文共66页
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