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当前位置:教育论文中心首页--硕士论文--0.35μm CMOS工艺下12位30MS/s SAR ADC的设计
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0.35μm CMOS工艺下12位30MS/s SAR ADC的设计
 
     论文目录
 
摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第一章 绪论第9-13页
    1.1 课题背景与意义第9-10页
    1.2 国内外研究现状第10-12页
    1.3 研究内容与设计指标第12页
    1.4 论文组织第12-13页
第二章 ADC基本原理第13-23页
    2.1 ADC工作原理第13-15页
        2.1.1 采样保持电路第13-14页
        2.1.2 量化第14-15页
        2.1.3 编码第15页
    2.2 常见ADC结构第15-19页
        2.2.1 全并行ADC第15-16页
        2.2.2 折叠插值ADC第16-17页
        2.2.3 流水线ADC第17页
        2.2.4 ∑-△ADC第17-18页
        2.2.5 SAR ADC第18页
        2.2.6 几种类型ADC结构特性对比第18-19页
    2.3 ADC性能指标第19-22页
        2.3.1 静态参数第19-21页
        2.3.2 动态参数第21-22页
    2.4 本章小结第22-23页
第三章 SAR ADC概述第23-33页
    3.1 SAR ADC的工作原理第23-24页
    3.2 SAR ADC典型结构第24-31页
        3.2.1 电流定标型SAR ADC第24-25页
        3.2.2 电压定标型SAR ADC第25-26页
        3.2.3 电荷定标型SAR ADC第26-30页
        3.2.4 其他结构定标型SAR ADC第30-31页
    3.3 本章小结第31-33页
第四章 SAR ADC单元电路研究与设计第33-61页
    4.1 采样开关第33-39页
        4.1.1 采样开关非理想因素第33-35页
        4.1.2 采样开关性能改进第35-39页
    4.2 分段电容DAC的电路设计第39-49页
        4.2.1 分段二进制电容阵列第39-40页
        4.2.2 单位电容的选择第40-46页
        4.2.3 单调切换电容阵列第46-49页
    4.3 比较器的研究与设计第49-56页
        4.3.1 预放大锁存比较器原理第49页
        4.3.2 电路结构第49-51页
        4.3.3 预放大器时间延迟的改善第51-52页
        4.3.4 回馈噪声的消除第52-53页
        4.3.5 预放大锁存比较器的失调电压第53页
        4.3.6 预放大锁存比较器仿真第53-56页
    4.4 数字控制逻辑第56-58页
    4.5 整体电路仿真第58-60页
    4.6 本章小结第60-61页
第五章 模数混合电路版图设计与芯片测试第61-75页
    5.1 版图设计考虑第61-64页
        5.1.1 布局第61-62页
        5.1.2 电源供给和接地问题第62-63页
        5.1.3 全差分设计第63页
        5.1.4 保护环第63-64页
        5.1.5 屏蔽第64页
        5.1.6 互连其他考虑第64页
    5.2 单元电路和整体电路版图第64-68页
        5.2.1 栅压自举开关第64-65页
        5.2.2 DAC电路第65-66页
        5.2.3 比较器电路第66-67页
        5.2.4 数字控制电路第67页
        5.2.5 整体电路第67-68页
    5.3 电路系统后仿真第68-70页
    5.4 SAR ADC测试方案第70-73页
    5.5 本章小结第73-75页
第六章 总结与展望第75-77页
    6.1 总结第75-76页
    6.2 展望第76-77页
参考文献第77-81页
致谢第81-83页
硕士阶段发表论文第83页

 
 
论文编号BS2547902,这篇论文共83
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