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基于65nm的低功耗设计与等价性验证 |
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| 论文目录 |
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| 摘要 | 第1-4页 | | ABSTRACT | 第4-7页 | | 第一章 绪论 | 第7-11页 | | ·论文的研究背景与意义 | 第7页 | | ·低功耗技术的研究现状 | 第7-8页 | | ·本论文完成的工作 | 第8-11页 | | 第二章 数字集成电路功耗 | 第11-19页 | | ·数字集成电路的功耗来源 | 第11-14页 | | ·数字集成电路的动态功耗 | 第11-13页 | | ·数字集成电路的静态功耗 | 第13-14页 | | ·数字集成电路降低功耗的基本途径 | 第14-17页 | | ·降低动态功耗的基本途径 | 第14-15页 | | ·降低静态功耗的基本途径 | 第15-16页 | | ·低功耗的相关技术 | 第16-17页 | | ·小结 | 第17-19页 | | 第三章 基于 UPF 的低功耗设计 | 第19-41页 | | ·静态多电压设计 | 第19-28页 | | ·静态多电压设计的多种方式 | 第20-23页 | | ·多电压设计中的特殊单元 | 第23-28页 | | ·基于 Accellera UPF v1.0 标准的低功耗设计方法 | 第28-32页 | | ·UPF 的简介 | 第28-30页 | | ·电源意图实例 | 第30-32页 | | ·ARM 总线外围电路的 UPF 设计 | 第32-40页 | | ·ARM 总线外围电路的电源意图 | 第32-33页 | | ·ahb_per 电压域划分 | 第33-35页 | | ·ahb_per 电源网络 | 第35-37页 | | ·创建电源开关 | 第37-38页 | | ·创建隔离单元 | 第38-39页 | | ·创建电压转换单元 | 第39-40页 | | ·小结 | 第40-41页 | | 第四章 基于 UPF 的逻辑等价性验证 | 第41-63页 | | ·形式验证的简介 | 第41-43页 | | ·逻辑等价性验证的原理 | 第41-42页 | | ·逻辑等价性验证步骤 | 第42-43页 | | ·Encounter Conformal 验证流程简介 | 第43-48页 | | ·相关概念简介 | 第43-44页 | | ·使用 Conformal 工具的验证流程 | 第44-48页 | | ·基于打平的验证方法 | 第48-51页 | | ·打平模型(flatten model) | 第48-50页 | | ·基于打平的 LEC 验证方法 | 第50-51页 | | ·基于层次化的 LEC 验证方法 | 第51-55页 | | ·层次化验证方法的背景 | 第51页 | | ·层次化比较方法的模型 | 第51-55页 | | ·基于 UPF 的逻辑等价性验证中的问题及解决方法 | 第55-61页 | | ·低功耗元器件的问题 | 第55-57页 | | ·低功耗元器件问题的解决方法 | 第57-59页 | | ·Design Ware 的兼容问题 | 第59-60页 | | ·Design Ware 兼容问题的解决方法 | 第60-61页 | | ·小结 | 第61-63页 | | 第五章 总结与展望 | 第63-65页 | | 致谢 | 第65-67页 | | 参考文献 | 第67-70页 |
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论文编号BS2006071，这篇论文共70页
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