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基于银纳米线的柔性薄膜压力传感器的研究 |
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| 论文目录 |
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| 摘要 | 第4-6页 | | ABSTRACT | 第6-7页 | | 第一章 绪论 | 第10-26页 | | 1.1 银纳米线的研究现状 | 第10-17页 | | 1.1.1 银纳米线的制备方法 | 第10-14页 | | 1.1.2 银纳米线的应用 | 第14-17页 | | 1.2 柔性应变传感器的研究进展 | 第17-23页 | | 1.2.1 柔性应变传感器的制备材料和方法 | 第18-20页 | | 1.2.2 柔性应变传感器的应变响应机理 | 第20-23页 | | 1.3 课题研究的主要内容 | 第23-24页 | | 1.4 课题研究的目的和意义 | 第24-26页 | | 第二章 银纳米线的制备及表征 | 第26-38页 | | 2.1 银纳米线的生长机理 | 第27-28页 | | 2.2 实验部分 | 第28-32页 | | 2.2.1 实验试剂与仪器 | 第28-29页 | | 2.2.2 银纳米线的制备 | 第29页 | | 2.2.3 银纳米线的分离与提纯 | 第29-30页 | | 2.2.4 表征方法 | 第30-32页 | | 2.3 结果与讨论 | 第32-37页 | | 2.4 本章小结 | 第37-38页 | | 第三章 不同制备工艺参数对银纳米线形貌的影响 | 第38-52页 | | 3.1 实验部分 | 第38-39页 | | 3.2 结果与讨论 | 第39-51页 | | 3.2.1 温度的影响 | 第39-41页 | | 3.2.2 成核控制剂的影响 | 第41-45页 | | 3.2.3 PVP分子量的影响 | 第45-48页 | | 3.2.4 硝酸银与PVP的质量比的影响 | 第48-51页 | | 3.3 本章小结 | 第51-52页 | | 第四章 柔性薄膜压力传感器的制备及性能测试 | 第52-64页 | | 4.1 实验部分 | 第53-55页 | | 4.1.1 实验试剂与仪器 | 第53页 | | 4.1.2 柔性薄膜压力传感器的制备 | 第53-55页 | | 4.2 结果与讨论 | 第55-62页 | | 4.2.1 力学性能测试 | 第55-56页 | | 4.2.2 柔性导电薄膜的拉伸-电阻测试 | 第56-57页 | | 4.2.3 柔性薄膜压力传感器的灵敏度测试 | 第57-59页 | | 4.2.4 柔性薄膜压力传感器的重复性测试 | 第59-61页 | | 4.2.5 柔性薄膜压力传感器的迟滞性测试 | 第61-62页 | | 4.3 本章小结 | 第62-64页 | | 第五章 结论与展望 | 第64-68页 | | 5.1 结论 | 第64-66页 | | 5.2 展望 | 第66-68页 | | 参考文献 | 第68-76页 | | 发表论文和参加科研情况 | 第76-78页 | | 致谢 | 第78页 |
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论文编号BS2541322，这篇论文共78页
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