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300K～120K温区聚酰亚胺表面电荷分布特性研究 |
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| 摘要 | 第5-6页 | | Abstract | 第6-10页 | | 第1章绪论 | 第10-19页 | | 1.1研究背景及意义 | 第10-11页 | | 1.2国内外研究现状 | 第11-17页 | | 1.2.1低温下表面电荷研究现状 | 第11-14页 | | 1.2.2低温下沿面闪络研究现状 | 第14-16页 | | 1.2.3表面电荷对沿面闪络的影响 | 第16-17页 | | 1.3现存的问题 | 第17页 | | 1.4本文主要研究内容 | 第17-19页 | | 第2章低温表面电荷测量系统的研制 | 第19-33页 | | 2.1低温真空环境参数控制平台 | 第19-21页 | | 2.1.1控制平台介绍 | 第19-21页 | | 2.1.2平台性能校验 | 第21页 | | 2.2低温表面电荷测量系统的设计 | 第21-28页 | | 2.2.1测量原理 | 第21-23页 | | 2.2.2测量系统的设计 | 第23-28页 | | 2.3低温表面电荷测量系统性能 | 第28-31页 | | 2.3.1分辨率 | 第28-30页 | | 2.3.2标定系数 | 第30-31页 | | 2.4本章小结 | 第31-33页 | | 第3章低温高真空下聚酰亚胺表面电位分布特性 | 第33-50页 | | 3.1实验系统及方法 | 第33-35页 | | 3.2直流作用下表面电位分布特性 | 第35-42页 | | 3.2.1300K下表面电位分布规律 | 第35-37页 | | 3.2.2210K下表面电位分布规律 | 第37-38页 | | 3.2.3120K下表面电位分布规律 | 第38-42页 | | 3.3直流作用后表面电位衰减特性 | 第42-47页 | | 3.3.1300K下表面电位衰减规律 | 第42-43页 | | 3.3.2210K下表面电位衰减规律 | 第43-44页 | | 3.3.3120K下表面电位衰减规律 | 第44-47页 | | 3.4电荷积聚与消散特点分析 | 第47-49页 | | 3.5本章小结 | 第49-50页 | | 第4章低温高真空下聚酰亚胺电荷积聚特性 | 第50-80页 | | 4.1仿真计算模型的建立 | 第50-57页 | | 4.1.1载流子输运模型 | 第50-54页 | | 4.1.2真空/介质复合绝缘系统建模 | 第54-57页 | | 4.2低温下电荷积聚特性及其对电场畸变的影响 | 第57-68页 | | 4.2.1低温下电荷分布特性 | 第57-65页 | | 4.2.2低温下介质表面电场分布 | 第65-68页 | | 4.3输运参数对电荷积聚的影响 | 第68-79页 | | 4.3.1迁移率的影响 | 第68-73页 | | 4.3.2陷阱的影响 | 第73-79页 | | 4.4本章小结 | 第79-80页 | | 第5章低温下电荷积聚对沿面闪络影响 | 第80-86页 | | 5.1电荷对沿面闪络影响因子分析 | 第80-82页 | | 5.2电荷积聚对沿面闪络的影响 | 第82-85页 | | 5.3本章小结 | 第85-86页 | | 第6章结论与展望 | 第86-88页 | | 6.1主要结论 | 第86-87页 | | 6.2工作展望 | 第87-88页 | | 参考文献 | 第88-94页 | | 攻读硕士学位期间发表的论文及其他成果 | 第94-95页 | | 攻读硕士学位期间参加的科研工作 | 第95-96页 | | 致谢 | 第96页 |
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论文编号BS4737772，这篇论文共96页
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