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Ge掺杂的微孔SiO2薄膜的制备及氢气渗透与分离性能的研究 |
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| 论文目录 |
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| 摘要 | 第1-5页 | | Abstract | 第5-8页 | | 第1章 绪论 | 第8-20页 | | ·引言 | 第8-9页 | | ·研究现状 | 第9-17页 | | ·氢气分离的现状 | 第9-12页 | | ·微孔 SiO2膜分离技术的研究现状 | 第12-17页 | | ·本论文的研究目的 | 第17页 | | ·本论文的研究内容 | 第17-20页 | | 第2章 Ge 掺杂微孔 SiO2膜的制备及表征 | 第20-40页 | | ·引言 | 第20页 | | ·实验 | 第20-23页 | | ·原料 | 第20页 | | ·支撑体的制备 | 第20-22页 | | ·Ge 掺杂的 SiO2溶胶及膜材料的制备 | 第22页 | | ·表征方法 | 第22-23页 | | ·结果与讨论 | 第23-37页 | | ·溶胶结构表征 | 第23-30页 | | ·孔结构分析 | 第30-32页 | | ·Ge 掺杂 SiO2膜的形貌 | 第32-33页 | | ·Ge 在薄膜材料中的存在状态 | 第33-35页 | | ·水热稳定性能的研究 | 第35-37页 | | ·本章小结 | 第37-40页 | | 第3章 Ge 掺杂的微孔 SiO2薄膜的氢气渗透和分离研究 | 第40-54页 | | ·引言 | 第40页 | | ·气体在膜材料中的输运机理 | 第40-43页 | | ·Knudsen 扩散 | 第41页 | | ·表面扩散 | 第41-42页 | | ·多层扩散与毛细管凝聚 | 第42-43页 | | ·分子筛分效应 | 第43页 | | ·气体分离原理 | 第43-44页 | | ·气体渗透性测试方法 | 第44-47页 | | ·恒体积变压力法 | 第44-46页 | | ·恒压力变体积法 | 第46-47页 | | ·实验 | 第47-48页 | | ·样品制备 | 第47页 | | ·气体渗透实验 | 第47-48页 | | ·结果与讨论 | 第48-52页 | | ·本章小结 | 第52-54页 | | 结论 | 第54-56页 | | 参考文献 | 第56-62页 | | 攻读硕士期间所发表的学术论文 | 第62-64页 | | 致谢 | 第64页 |
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论文编号BS1880528，这篇论文共64页
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