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抗内部存储单元失效的32位微处理器的研究与实现
 
     论文目录
 
摘要第1-5页
Abstract第5-8页
1 绪论第8-14页
   ·课题研究背景第8-9页
   ·课题研究现状第9-11页
   ·课题研究内容第11-12页
   ·论文结构第12-14页
2 32 位微处理器的体系结构第14-26页
   ·32 位微处理器的体系结构模型第14-16页
   ·32 位微处理器的指令系统第16-21页
   ·流水线技术第21-23页
   ·存储空间分配第23-25页
   ·本章小结第25-26页
3 抗存储单元失效技术的研究第26-38页
   ·抗存储单元失效技术的介绍第26-28页
   ·检错纠错码的介绍第28-36页
   ·检错纠错码的性能比较第36-37页
   ·本章小结第37-38页
4 抗内部存储单元失效的32 位微处理器的设计与实现第38-62页
   ·32 位微处理器的端口描述第38-40页
   ·数据通路的的设计第40-48页
   ·控制单元的设计第48-58页
   ·检错纠错单元的设计第58-61页
   ·本章小结第61-62页
5 仿真与结果分析第62-74页
   ·测试平台的搭建第62-64页
   ·指令测试第64-68页
   ·EDAC 功能测试第68-71页
   ·综合结果第71-73页
   ·本章小结第73-74页
6 总结与展望第74-76页
致谢第76-77页
参考文献第77-80页
 
 
论文编号BS203379，这篇论文共80页
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