| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 目录 | 第7-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-26页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·压电陶瓷概述 | 第11-18页 |
| ·压电陶瓷概念 | 第12-15页 |
| ·压电陶瓷的主要性能参数 | 第15-17页 |
| ·机理 | 第17页 |
| ·压电陶瓷应用 | 第17-18页 |
| ·无铅压电陶瓷的分类 | 第18-21页 |
| ·钙钛矿型铁电体 | 第18页 |
| ·含铋层状结构铁电体 | 第18-19页 |
| ·铌酸锂 LiNbO_3型铁电体 | 第19-20页 |
| ·钨青铜结构铁电体 | 第20-21页 |
| ·其它类型铁电体 | 第21页 |
| ·无铅压电陶瓷的改性方法 | 第21-24页 |
| ·原子半径、价态 | 第22-23页 |
| ·添加烧结助剂 | 第23页 |
| ·改进制备工艺 | 第23-24页 |
| ·本论文的研究意义和研究内容 | 第24-26页 |
| 第二章 样品制备与表征 | 第26-33页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·样品的制备 | 第26-31页 |
| ·实验原料与规格 | 第26-27页 |
| ·主要仪器与设备 | 第27-28页 |
| ·材料制备工艺流程 | 第28-31页 |
| ·性能测试与表征 | 第31-33页 |
| ·样品的结构分析与微观形貌 | 第31页 |
| ·样品收缩率 I 的测试 | 第31页 |
| ·相对介电常数εr和介电损耗 tanδ | 第31-32页 |
| ·电导率 G | 第32页 |
| ·样品的铁电性分析 | 第32-33页 |
| 第三章 A、B 位取代对 KNN 结构和性能的影响 | 第33-46页 |
| ·引言 | 第33页 |
| ·KNLN、KNLS、KNLT 陶瓷的制备与性能表征 | 第33-43页 |
| ·KNLN、KNLS、KNLT 陶瓷的 X 射线衍射(XRD)分析 | 第33-36页 |
| ·KNLN、KNLS、KNLT 陶瓷的扫描电子显微镜(SEM)分析 | 第36-37页 |
| ·KNLN、KNLS、KNLT 陶瓷的收缩率 I 分析 | 第37-38页 |
| ·KNLN、KNLS、KNLT 陶瓷的相对介电常数εr分析 | 第38-39页 |
| ·KNLN、KNLS、KNLT 陶瓷的介电损耗 tanδ分析 | 第39-40页 |
| ·KNLN、KNLS、KNLT 陶瓷体系的电导率 G 分析 | 第40-41页 |
| ·KNLN、KNLS、KNLT 陶瓷的电滞回线和电畴形貌 | 第41-43页 |
| ·KNN 陶瓷收缩率 I 和其电学性能的关系 | 第43-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 第四章 烧结助剂对 KNN 陶瓷性能的影响 | 第46-57页 |
| ·引言 | 第46-47页 |
| ·烧结助剂 CuO 和 CeO_2对 KNN 性能的影响 | 第47-54页 |
| ·KNN-ywt%CuO 和 KNN-xwt%CeO_2陶瓷的 XRD 衍射分析 | 第47-49页 |
| ·KNN-ywt%CuO 和 KNN-xwt%CeO_2陶瓷 SEM 分析 | 第49-50页 |
| ·KNN-ywt%CuO 和 KNN-xwt%CeO_2的收缩率 I 测试分析 | 第50-51页 |
| ·KNN-ywt%CuO 和 KNN-xwt%CeO_2的相对介电常数εr | 第51-52页 |
| ·KNN-ywt%CuO 和 KNN-xwt%CeO_2的介电损耗 tanδ | 第52-53页 |
| ·KNN-ywt%CuO 和 KNN-xwt%CeO_2电导率 G 的测试与分析 | 第53-54页 |
| ·添加烧结助剂后样品收缩率 I 和其电学性能的关系 | 第54-56页 |
| ·小结 | 第56-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-60页 |
| ·结论 | 第57-58页 |
| ·展望 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-69页 |
| 附录：攻读硕士学位期间发表的论文 | 第69页 |
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