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嵌入式系统软件开发环境中调试器的设计与实现 |
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| 论文目录 |
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| 1 引言 | 第1-12页 | | 1．1 嵌入式系统概述 | 第7-8页 | | 1．1．1 嵌入式系统的概念 | 第7页 | | 1．1．2 嵌入式系统的特点 | 第7-8页 | | 1．1．3 嵌入式系统的发展 | 第8页 | | 1．2 嵌入式系统软件开发环境概述 | 第8-12页 | | 1．2．1 嵌入式操作系统 | 第8-9页 | | 1．2．2 嵌入式系统软件开发环境中的开发工具 | 第9-10页 | | 1．2．3 中科院计算所EEOS简介 | 第10页 | | 1．2．4 论文产生的理论与实践背景 | 第10-12页 | | 2 程序调试与调试器设计概述 | 第12-17页 | | 2．1 调试的一般过程 | 第12-13页 | | 2．2 调试器的分类 | 第13-14页 | | 2．3 调试器设计应遵循的一般原则 | 第14-15页 | | 2．4 嵌入式系统软件开发中调试方法的历史与发展 | 第15页 | | 2．5 嵌入式系统软件开发环境中调试器的特点 | 第15-17页 | | 3 ELF文件格式及调试信息的表示 | 第17-33页 | | 3．1 ELF文个件格式介绍 | 第17-22页 | | 3．1．1 ELF文件的总体结构 | 第17-18页 | | 3．1．2 各组成部分内容介绍 | 第18-22页 | | 3．2 ELF文件重定位的实现 | 第22-24页 | | 3．2．1 静态重定位的实现 | 第23-24页 | | 3．2．2 动态重定位的实现 | 第24页 | | 3．3 ELF文件中调试信息的表示 | 第24-33页 | | 3．3．1 调试信息的产生过程 | 第24-26页 | | 3．3．2 stabs调试信息表示格式简介 | 第26-33页 | | 4 调试信息的提取与加工 | 第33-45页 | | 4．1 ELF目标文件中stab节内容的组织特点 | 第33-35页 | | 4．2 调试器设计中提取和加工目标文件中调试信息的数据结构 | 第35-45页 | | 4．2．1 bfd（the binary file descriptor） | 第35-38页 | | 4．2．2 objfile | 第38-45页 | | 5 嵌入式系统中两种远程调试方法的原理与实现 | 第45-50页 | | 5．1 Stub-Debugger方式 | 第45-47页 | | 5．2 OCD调试方式（On-Chip Debugging） | 第47-50页 | | 6 嵌入式软件开发环境中调试器常用功能的实现 | 第50-57页 | | 6．1 symbol．load功能的实现 | 第50页 | | 6．2 断点管理功能的实现 | 第50-51页 | | 6．3 函数凋用栈与变量查看功能 | 第51-55页 | | 6．4 单步执行功能的实现 | 第55-57页 | | 6．4．1 指今级单步 | 第55页 | | 6．4．2 step into单步功能的实现算法 | 第55-56页 | | 6．4．3 step over功能的实现算法 | 第56-57页 | | 附一 stabexample．c的stabs格式调试信息 | 第57-62页 | | 附二 GNU远程串口调试通信协议介绍 | 第62-65页 | | 附三 BDM调试电路板电路图 | 第65-66页 | | 附四 嵌入式调试器的基本功能及命令格式 | 第66-69页 | | 参考文献 | 第69-71页 | | 致谢 | 第71-72页 |
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论文编号BS844281，这篇论文共72页
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