|
|
|
|
功率电源中IGBT失效机理及其检测方法的研究 |
| |
| 论文目录 |
| |
| 摘要 | 第1-4页 | | Abstract | 第4-7页 | | 1 绪论 | 第7-9页 | | ·课题的提出和研究意义 | 第7页 | | ·IGBT失效原因及检测方法研究现状 | 第7-8页 | | ·本文的主要研究工作 | 第8-9页 | | 2 IGBT器件结构和工作原理 | 第9-18页 | | ·IGBT的演变过程 | 第9页 | | ·IGBT的结构 | 第9-11页 | | ·IGBT的工作原理 | 第11-12页 | | ·IGBT的基本特性 | 第12-15页 | | ·静态特性 | 第13页 | | ·IGBT栅极关断特性 | 第13-15页 | | ·IGBT的安全工作区 | 第15-16页 | | ·正偏安全工作区(FBSOA) | 第15页 | | ·反偏安全工作区(RBSOA) | 第15-16页 | | ·短路安全工作区(SCSOA) | 第16页 | | ·频率特性 | 第16-18页 | | 3 IGBT工作特性的理论分析 | 第18-23页 | | ·IGBT稳态特性的分析 | 第18-21页 | | ·瞬态特性的分析 | 第21-23页 | | 4 IGBT失效的主要影响因素 | 第23-35页 | | ·硅参数温度模型 | 第23-25页 | | ·热导率 | 第23页 | | ·禁带宽度 | 第23页 | | ·本征载流子浓度 | 第23-24页 | | ·载流子寿命 | 第24页 | | ·载流子迁移率 | 第24-25页 | | ·双极扩散系数 | 第25页 | | ·硅参数的仿真 | 第25-27页 | | ·擎住效应 | 第27-29页 | | ·影响静态擎住效应的因素 | 第27-28页 | | ·影响动态擎住效应的因素 | 第28-29页 | | ·IGBT的失效因素 | 第29-35页 | | ·通态压降 | 第29-30页 | | ·擎住电流 | 第30-31页 | | ·开关速度 | 第31-32页 | | ·漏电流 | 第32-33页 | | ·阈值电压 | 第33-35页 | | 5 IGBT失效机理的分析 | 第35-45页 | | ·过电压失效 | 第35-36页 | | ·栅极过压 | 第35页 | | ·集电极-发射极过电压 | 第35页 | | ·杂散电感过电压 | 第35-36页 | | ·静电损伤 | 第36页 | | ·过热损伤 | 第36页 | | ·过电流 | 第36-39页 | | ·擎住效应 | 第36-37页 | | ·长时间过流运行 | 第37页 | | ·短路 | 第37-39页 | | ·IGBT动态仿真模型的设计 | 第39-45页 | | ·功率MOSFET部分 | 第39-40页 | | ·BJT部分 | 第40-41页 | | ·仿真结果及失效机理分析 | 第41-45页 | | 6 实验系统设计和实验结果 | 第45-57页 | | ·参数测试方法的介绍 | 第46-48页 | | ·栅极—发射极阈值电压的测试 | 第46页 | | ·集电极—发射极漏电流的测试 | 第46-47页 | | ·栅极—发射极漏电流的测试 | 第47页 | | ·集电极-发射极饱和电压的测试 | 第47-48页 | | ·脉冲发生电路设计 | 第48-49页 | | ·IGBT驱动电路分析与设计 | 第49-51页 | | ·栅极驱动电压 | 第49页 | | ·栅极串联电阻 | 第49-51页 | | ·实验结果 | 第51-56页 | | ·全文总结 | 第56-57页 | | 致谢 | 第57-58页 | | 参考文献 | 第58-60页 |
|
|
|
|
论文编号BS752832，这篇论文共60页
会员购买按0.35元/页下载，共需支付21元。 直接购买按0.5元/页下载，共需要支付30元 。 |
 |
 |
我还不是会员，注册会员！
会员下载更优惠!充值送钱！ |
我只需要这篇，无需注册！
直接网上支付，方便快捷！ |
|
|
|
版权申明：本目录由www.jylw.com网站制作，本站并未收录原文，如果您是作者，需要删除本篇论文目录请通过QQ或其它联系方式告知我们，我们承诺24小时内删除。 |
|
|
广告服务