摘要 | 第4-7页 |
ABSTRACT | 第7-9页 |
第一章 绪论 | 第14-30页 |
1.1 选题背景 | 第14-26页 |
1.1.1 研究意义 | 第14-19页 |
1.1.2 研究现状 | 第19-25页 |
1.1.3 地质应用 | 第25-26页 |
1.2 研究思路及方法 | 第26-27页 |
1.2.1 Sr、Hf校正方法研究 | 第26页 |
1.2.2 Pb同位素与主、微量元素同时分析方法研究 | 第26页 |
1.2.3 Mg同位素分析方法研究 | 第26-27页 |
1.3 研究内容 | 第27-28页 |
1.3.1 建立Mg同位素化学分离及溶液样品多接收等离子体质谱分析方法 | 第27-28页 |
1.3.2 建立Mg同位素fsLA-MC-ICP-MS分析方法 | 第28页 |
1.3.3 建立Sr同位素LA-MC-ICP-MS分析方法 | 第28页 |
1.3.4 利用LA-MC-ICP-MS技术分析对锆石Hf同位素干扰校正方法优化并应用与实际地质样品 | 第28页 |
1.3.5 利用LA-Q/MC-ICP-MS联用,建立同一样品同一区域主、微量元素及Pb同位素同时分析技术,对NIST、USGS和NRCG系列中部分标准进行主、微量及Pb同位素分析 | 第28页 |
1.4 完成工作量 | 第28-30页 |
第二章 仪器 | 第30-44页 |
2.1 四极杆等离子体质谱仪器简介 | 第30-32页 |
2.1.1 真空系统 | 第30页 |
2.1.2 ICP离子源 | 第30页 |
2.1.3 四极杆质量分析器 | 第30-31页 |
2.1.4 检测器 | 第31-32页 |
2.1.5 ICP-MS研究进展 | 第32页 |
2.2 多接收等离子体质谱仪器简介 | 第32-35页 |
2.2.1 磁式双聚焦质量分析器 | 第33-34页 |
2.2.2 检测器 | 第34页 |
2.2.3 MC-ICP-MS研究进展 | 第34-35页 |
2.3 激光剥蚀系统简介 | 第35-37页 |
2.3.1 激光剥蚀系统(Laser Ablation) | 第35-36页 |
2.3.2 激光剥蚀系统相关研究进展 | 第36-37页 |
2.4 飞秒激光剥蚀系统简介 | 第37-38页 |
2.4.1 飞秒激光剥蚀系统 | 第37页 |
2.4.2 飞秒激光剥蚀系统相关研究进展 | 第37-38页 |
2.5 本研究中使用的仪器、试剂与样品 | 第38-44页 |
2.5.1 仪器 | 第38-41页 |
2.5.2 试剂与样品 | 第41-44页 |
第三章 Sr同位素校正方法研究 | 第44-68页 |
3.1 引言 | 第44-48页 |
3.2 Sr同位素样品分析前处理 | 第48-50页 |
3.2.1 样品处理方法 | 第48页 |
3.2.2 离子交换树脂 | 第48-49页 |
3.2.3 Sr同位素分离纯化(接Rb) | 第49-50页 |
3.2.4 标准溶液配制 | 第50页 |
3.3 溶液进样-多接收等离子体质谱分析Sr同位素 | 第50-64页 |
3.3.1 仪器参数 | 第51-52页 |
3.3.2 干扰扣除与校正 | 第52页 |
3.3.3 国际标准物质中不同Rb含量的Sr同位素测试结果 | 第52-58页 |
3.3.4 Sr同位素干扰扣除的地质应用 | 第58-64页 |
3.4 激光进样-多接收等离子体质谱分析Sr同位素 | 第64-67页 |
3.4.1 实验仪器和样品选择 | 第64-65页 |
3.4.2 质量监控、基体效应与质量歧视效应 | 第65页 |
3.4.3 干扰校正 | 第65-66页 |
3.4.4 激光原位微区Sr同位素地质应用 | 第66-67页 |
3.5 主要结论 | 第67-68页 |
第四章 Hf同位素校正方法研究 | 第68-84页 |
4.1 引言 | 第68-73页 |
4.2 Hf同位素样品分析前处理 | 第73-76页 |
4.2.1 样品处理方法 | 第73-74页 |
4.2.2 离子交换树脂 | 第74-75页 |
4.2.3 Hf同位素分离纯化 | 第75页 |
4.2.4 标准溶液配制 | 第75-76页 |
4.3 溶液进样-多接收等离子体质谱分析Hf同位素 | 第76-80页 |
4.3.1 仪器参数 | 第76页 |
4.3.2 干扰扣除与校正 | 第76-80页 |
4.4 激光进样-多接收等离子体质谱分析Hf同位素 | 第80-82页 |
4.4.1 实验仪器和样品选择 | 第80-82页 |
4.4.2 质量监控、基体效应与质量歧视效应 | 第82页 |
4.4.3 激光原位微区Hf同位素地质应用 | 第82页 |
4.5 主要结论 | 第82-84页 |
第五章 Pb同位素分析方法研究 | 第84-110页 |
5.1 引言 | 第84-85页 |
5.2 激光剥蚀-四极杆/多接收等离子体质谱分析Pb同位素分析方法 | 第85-95页 |
5.2.1 仪器参数 | 第85-87页 |
5.2.2 干扰扣除与校正 | 第87-88页 |
5.2.3 T1内标法对Pb同位素测试的影响 | 第88-95页 |
5.3 激光进样-多接收等离子体质谱分析Pb同位素 | 第95-96页 |
5.3.1 实验仪器和样品选择 | 第95页 |
5.3.2 质量监控、基体效应与质量歧视效应 | 第95-96页 |
5.3.3 干扰校正 | 第96页 |
5.4 激光剥蚀-(四极杆/多接收)-等离子体质谱同时分析主、微量元素与Pb同位素 | 第96-109页 |
5.4.1 分配比例及仪器连接方式条件实验 | 第96-100页 |
5.4.2 激光频率、斑束直径及能量对主、微量元素测试结果的影响 | 第100-101页 |
5.4.3 激光频率、斑束直径及能量对Pb同位素测试结果的影响 | 第101-103页 |
5.4.4 对标准样品的主、微量元素含量及Pb同位素测试 | 第103-109页 |
5.5 主要结论 | 第109-110页 |
第六章 Mg同位素分析方法研究 | 第110-140页 |
6.1 引言 | 第110-115页 |
6.2 Mg同位素样品分析前处理 | 第115-118页 |
6.2.1 样品处理方法 | 第115页 |
6.2.2 离子交换树脂 | 第115-116页 |
6.2.3 Mg同位素分离纯化(淋洗曲线)和回收率 | 第116-118页 |
6.3 溶液进样-多接收等离子体质谱分析Mg同位素 | 第118-124页 |
6.3.1 仪器参数 | 第118-120页 |
6.3.2 标准溶液配制 | 第120页 |
6.3.3 MC-ICP-MS测试Mg同位素准确性检验 | 第120页 |
6.3.4 干扰扣除与校正 | 第120-122页 |
6.3.5 Mg同位素浓度效应 | 第122-123页 |
6.3.6 Mg同位素基体效应 | 第123-124页 |
6.4 激光进样-多接收等离子体质谱分析Mg同位素 | 第124-129页 |
6.4.1 实验仪器和样品选择 | 第124-126页 |
6.4.2 激光剥蚀条件对Mg同位素测试的影响 | 第126-128页 |
6.4.3 部分国际标准样品的Mg同位素测试 | 第128-129页 |
6.5 仪器接口改造对Mg同位素测试的影响 | 第129-132页 |
6.5.1 浓度匹配对Mg同位素测试的影响 | 第130页 |
6.5.2 基体效应对Mg同位素测试的影响 | 第130-132页 |
6.6 fsLA-MC-ICP-MS测定Mg同位素地质应用 | 第132-138页 |
6.6.1 浓度匹配对飞秒激光原位分析Mg同位素测试的影响 | 第132页 |
6.6.2 基体效应对飞秒激光原位分析Mg同位素测试的影响 | 第132-135页 |
6.6.3 HNB橄榄石均一性实验 | 第135-136页 |
6.6.4 松树沟橄榄石的Mg同位素分析 | 第136-138页 |
6.7 主要结论 | 第138-140页 |
第七章 主要结论与存在问题 | 第140-144页 |
7.1 主要结论 | 第140-142页 |
7.2 存在问题与下一步研究工作 | 第142-144页 |
参考文献(References) | 第144-180页 |
致谢 | 第180-182页 |
攻读博士学位期间取得的科研成果 | 第182-186页 |
作者简介 | 第186页 |