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芯片级ESD测试方法研究与比较
 
     论文目录
 
摘要第1-5页
ABSTRACT第5-8页
第一章 绪论第8-11页
   ·研究的背景意义第8-9页
   ·研究现状第9页
   ·论文结构及创新点第9-11页
     ·论文结构第9页
     ·论文创新点第9-11页
第二章 电磁兼容第11-17页
   ·相关概念第11-12页
   ·芯片级测试第12-14页
     ·发射测量IEC 61967第13-14页
     ·抗扰度测试IEC62132第14页
   ·静电放电第14-17页
第三章 静电放电测试第17-32页
   ·芯片级ESD测试第17-23页
     ·机器模型(Machine Mode)第17页
     ·人体模型(Human Body Model)第17-20页
     ·充电器件模型(Charge Device Model)第20-23页
   ·芯片的latch up测试第23-26页
   ·系统级ESD测试第26-29页
   ·ESD保护电路第29-32页
第四章 芯片级与系统级ESD比较及PESD的设计与实现第32-48页
   ·芯片级、系统级ESD的分析与比较第33-37页
   ·系统级静电放电测试与芯片级门锁测试第37-39页
   ·芯片级PESD测试模型第39-41页
   ·PESD的EMC测试板的设计与实现第41-42页
   ·PESD的EMC测试软件的设计与实现第42-47页
   ·PESD的测试引脚及测试结果的分类第47-48页
第五章 PESD的重复性、可靠性及测试结果的分析比较第48-56页
   ·PESD测试的重复性及可靠性验证第48-50页
   ·测试结果分析第50-56页
     ·PESD与HBM的比较第51-54页
     ·PESD与latch-up测试的比较第54-56页
第六章 总结与展望第56-57页
   ·工作总结第56页
   ·工作展望第56-57页
参考文献第57-59页
致谢第59-60页
攻读硕士期间发表论文情况第60页

 
 
论文编号BS386,这篇论文共60
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