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阵列天线方向图的遗传算法综合及零陷研究 |
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| 论文目录 |
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| 摘要 | 第1-6页 | | ABSTRACT | 第6-10页 | | 第1章 绪论 | 第10-15页 | | ·课题的背景和意义 | 第10-11页 | | ·国内外发展现状 | 第11-14页 | | ·阵列方向图综合方法 | 第11-12页 | | ·零陷技术的研究 | 第12-14页 | | ·本文内容介绍 | 第14-15页 | | 第2章 遗传算法的基本原理 | 第15-24页 | | ·遗传算法及其特点 | 第15-16页 | | ·遗传算法基本实现技术 | 第16-21页 | | ·小生境遗传算法 | 第21-23页 | | ·本章小结 | 第23-24页 | | 第3章 基于遗传算法的天线阵方向图综合 | 第24-35页 | | ·传统综合方法 | 第24-28页 | | ·契比雪夫天线阵综合 | 第24-26页 | | ·泰勒天线阵综合 | 第26-27页 | | ·仿真结果 | 第27-28页 | | ·遗传算法用于阵列天线方向图综合 | 第28-34页 | | ·线天线阵 | 第28-29页 | | ·小生境遗传算法综合方向图 | 第29-33页 | | ·方向图的综合结果和比较 | 第33-34页 | | ·本章小结 | 第34-35页 | | 第4章 阵列天线的零点综合 | 第35-54页 | | ·零点综合方法介绍 | 第35-39页 | | ·幅值控制形成零陷 | 第35-38页 | | ·幅相同时控制形成零陷 | 第38-39页 | | ·遗传算法用于零点综合 | 第39-42页 | | ·算法描述 | 第39-40页 | | ·仿真实例 | 第40-42页 | | ·宽零陷的形成 | 第42-53页 | | ·宽零陷形成的原因 | 第42页 | | ·导数约束法 | 第42-44页 | | ·G-S正交法形成宽零陷 | 第44-47页 | | ·零陷区域功率约束形成宽零陷 | 第47-53页 | | ·本章小结 | 第53-54页 | | 第5章 阵元间互耦对阵列方向图的影响 | 第54-74页 | | ·线天线的矩量法分析 | 第54-58页 | | ·Pocklington方程 | 第54-55页 | | ·矩量法分析 | 第55-58页 | | ·天线阵广义阻抗矩阵的计算 | 第58-60页 | | ·阵元间互耦对阵列方向图的影响 | 第60-63页 | | ·阵元间互耦的补偿 | 第63-73页 | | ·修正激励电流补偿法 | 第63-66页 | | ·矩量法补偿 | 第66-68页 | | ·本征激励法 | 第68-73页 | | ·本章小结 | 第73-74页 | | 结论 | 第74-76页 | | 参考文献 | 第76-81页 | | 攻读硕士学位期间所发表的论文和取得的科研成果 | 第81-82页 | | 致谢 | 第82页 |
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论文编号BS1522837，这篇论文共82页
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