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SoC可重用验证平台研究与开发 |
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论文目录 |
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摘要 | 第1-7页 | ABSTRACT | 第7-11页 | 第1章 绪论 | 第11-14页 | ·研究背景 | 第11-12页 | ·验证面临的挑战 | 第11-12页 | ·验证的开销 | 第12页 | ·研究内容及章节安排 | 第12-14页 | 第2章 验证方法学概述 | 第14-25页 | ·测试平台概念 | 第14-15页 | ·传统验证环境的特点及不足 | 第15-18页 | ·传统验证环境的特点 | 第15-17页 | ·传统验证平台的不足 | 第17-18页 | ·硬件验证语言简介 | 第18-23页 | ·Vera | 第19页 | ·SystemC | 第19-20页 | ·SystemVerilog | 第20-22页 | ·面向对象的设计语言 | 第22-23页 | ·SoC验证面临的挑战 | 第23-25页 | 第3章 OVM验证方法学初探 | 第25-54页 | ·OVM和CDV验证技术简介 | 第25-26页 | ·OVM验证平台和验证环境 | 第26-29页 | ·SystemVerilog的OVM类 | 第29-37页 | ·OVM验证组件类 | 第29-31页 | ·OVM仿真运行阶段 | 第31-37页 | ·事务级系统建模 | 第37-50页 | ·事务级建模综述 | 第38-39页 | ·OVM中TLM概念 | 第39-40页 | ·端口和输出端口 | 第40-41页 | ·传统模块间通信 | 第41-42页 | ·生产者和消费者问题 | 第42-50页 | ·SoC系统验证环境 | 第50-54页 | 第4章 利用OVM搭建可重用验证平台 | 第54-77页 | ·被测设计DUT功能简介 | 第54-55页 | ·验证需求分析 | 第55页 | ·搭建验证平台 | 第55-60页 | ·PCI-Express总线简介 | 第55-56页 | ·PCI-Express IP核简介 | 第56-58页 | ·被测对象的PCI-E接口设计 | 第58页 | ·验证的难点 | 第58-60页 | ·验证流程 | 第60页 | ·OVM验证平台 | 第60-62页 | ·验证平台各模块介绍 | 第62-73页 | ·PCI-E数据包定义 | 第62-65页 | ·序列发生器sequencer | 第65-66页 | ·测试序列sequence | 第66-67页 | ·驱动器driver | 第67-72页 | ·测试环境environment | 第72页 | ·测试作为顶层test | 第72-73页 | ·测试结果分析 | 第73-77页 | 第5章 总结与展望 | 第77-79页 | ·总结 | 第77页 | ·展望 | 第77-79页 | 参考文献 | 第79-82页 | 附录 | 第82-83页 | 作者攻读学位期间发表的论文 | 第83-84页 | 致谢 | 第84页 |
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