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面向片上存储应用的高性能抗辐射纠错码编码机制的研究与实现
 
     论文目录
 
摘要第1-6页
ABSTRACT第6-13页
第一章 绪论第13-18页
   ·课题的研究背景和意义第13-14页
   ·国内外研究现状第14-16页
   ·本课题的研究内容与目标第16页
   ·本文的结构第16-18页
第二章 辐射效应对片内存储器的影响第18-28页
   ·辐射效应分析第18-21页
   ·辐射效应对片内存储器的影响第21-23页
   ·片内存储器中错误图样分析第23-27页
   ·本章小结第27-28页
第三章 纠错码理论基础第28-46页
   ·纠错码的工作原理第28-31页
   ·存储器保护中常用纠错码理论基础第31-39页
     ·线性分组码的基本概念第32-34页
     ·生成矩阵G 和监督矩阵H第34-36页
     ·校验子S第36页
     ·常用的线性分组码第36-39页
   ·符号纠错码理论基础第39-45页
     ·RS 码第39-40页
     ·伽罗华(Galois)域的定义与性质第40-41页
     ·二元扩展域GF(2m )和循环群的构成第41-43页
     ·GF(2m )域元素的运算第43-45页
   ·本章小结第45-46页
第四章 片内存储器保护中常用纠错码的研究与实现第46-52页
   ·奇偶校验码的研究与实现第46页
   ·扩展汉明码的研究与实现第46-51页
     ·扩展汉明码的编码实现第46-50页
     ·扩展汉明码的解码实现第50-51页
   ·本章小结第51-52页
第五章 符号纠错码算法与实现第52-66页
   ·符号纠错码编码第53-57页
     ·算法分析第53-56页
     ·硬件实现第56-57页
   ·符号纠错码解码第57-65页
     ·算法分析第57-62页
     ·硬件实现第62-65页
   ·本章小结第65-66页
第六章 符号纠错码的性能分析第66-77页
   ·仿真验证与结果分析第66-74页
     ·存储器保护中常用纠错码的仿真验证第66-70页
     ·符号纠错码编码的仿真验证第70页
     ·符号纠错码解码的仿真验证第70-74页
     ·仿真结果分析第74页
   ·电路综合结果与分析第74-75页
   ·整体性能分析第75页
   ·本章小结第75-77页
第七章 总结与展望第77-78页
   ·本文总结第77页
   ·课题展望第77-78页
参考文献第78-80页
致谢第80-82页
攻读硕士学位期间已发表的论文第82页

 
 
论文编号BS533704,这篇论文共82
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