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当前位置:教育论文中心首页--硕士论文--射频集成电路的ESD防护技术研究
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射频集成电路的ESD防护技术研究
 
     论文目录
 
摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-15页
   ·引言第7-8页
   ·静电放电模式第8-11页
   ·静电放电的测试方法第11-13页
     ·I/O Pin 的静电放电测试第11页
     ·Pin-to-Pin 的静电放电测试第11-12页
     ·VDD-to-VSS 的静电放电测试第12页
     ·传输线脉冲发生器 TLP 测试第12-13页
   ·射频集成电路的 ESD 防护研究现状第13页
   ·本论文的主要研究工作第13-15页
第二章 ESD 器件的防护机理第15-23页
   ·ESD 失效形式及其设计窗口的研究第15-17页
   ·电阻第17-18页
   ·二极管第18-19页
   ·MOS 管第19-21页
   ·本章小结第21-23页
第三章 基于 SCR 的 ESD 防护器件第23-49页
   ·晶闸管的工作原理第23-24页
   ·ESD 仿真第24-29页
     ·ESD 的器件仿真第24-26页
     ·模型参数对关键性能的影响第26-27页
     ·二次击穿电流的仿真第27-29页
   ·SCR 器件的改进措施第29-35页
     ·MLSCR第29-32页
     ·LVTSCR第32-35页
   ·新型的 SCR 器件第35-37页
     ·双向的 SCR 器件第35-36页
     ·DTSCR第36-37页
   ·ESD 防护器件的寄生电容及 ESD 鲁棒性综合评估第37-47页
   ·本章小结第47-49页
第四章 全芯片 ESD 防护网络的设计第49-63页
   ·射频全芯片设计的概述第49-51页
   ·Power Clamp 电路的设计第51-61页
     ·二极管串的 Power Clamp 电路第51-53页
     ·RC 触发的 ESD 防护结构第53-61页
   ·基于 SCR 器件的 Power Clamp 电路第61-62页
   ·本章小结第62-63页
第五章 总结与展望第63-65页
致谢第65-67页
参考文献第67-71页
研究成果第71-72页

 
 
论文编号BS1764390,这篇论文共72
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