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Ag/ITO/Ag多层薄膜的制备、微结构及光电性质表征 |
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论文目录 |
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摘要 | 第1-5页 | Abstract | 第5-7页 | 目录 | 第7-9页 | 第一章 绪论 | 第9-23页 | §1.1 引言 | 第9-12页 | §1.2 国内外相关研究工作 | 第12-19页 | §1.2.1 国外相关研究工作 | 第12-15页 | §1.2.2 国内相关研究工作 | 第15-19页 | §1.3 本文的选题依据和主要研究工作 | 第19页 | §1.4 小结 | 第19-20页 | 参考文献 | 第20-23页 | 第二章 底层Ag膜的制备、微结构及其光电性能表征 | 第23-34页 | §2.1 研究底层Ag膜的意义 | 第23页 | §2.2 薄膜样品制备 | 第23-24页 | §2.2.1 基片的清洗 | 第23-24页 | §2.2.2 底层Ag膜的制备 | 第24页 | §2.3 微结构分析 | 第24-26页 | §2.3.1 X射线衍射(XRD)表征 | 第24-25页 | §2.3.2 扫描电子显微镜(SEM)表征 | 第25-26页 | §2.4 膜厚测量 | 第26-28页 | §2.4.1 表面轮廓仪测量膜厚 | 第26-27页 | §2.4.2 椭偏解谱软件FilmWizard拟合透射光谱确定膜厚 | 第27-28页 | §2.5 光学特性分析 | 第28-31页 | §2.5.1 透射光谱分析 | 第28-29页 | §2.5.2 反射光谱分析 | 第29-30页 | §2.5.3 吸收光谱分析 | 第30页 | §2.5.4 光学常数分析 | 第30-31页 | §2.6 电学特性分析 | 第31-32页 | §2.7 小结 | 第32-33页 | 参考文献 | 第33-34页 | 第三章 ITO/Ag和Ag/ITO复合薄膜的制备、微结构及其光电性能表征 | 第34-46页 | §3.1 Ag/ITO与ITO/Ag复合薄膜样品制备 | 第34-35页 | §3.2 微结构分析 | 第35-36页 | §3.3 膜厚测量 | 第36-38页 | §3.3.1 表面轮廓仪测量膜厚 | 第36-37页 | §3.3.2 椭偏解谱软件FilmWizard拟合透射光谱确定膜厚 | 第37-38页 | §3.4 光学特性分析 | 第38-42页 | §3.4.1 透射光谱分析 | 第38-39页 | §3.4.2 反射光谱分析 | 第39-40页 | §3.4.3 吸收光谱分析 | 第40-41页 | §3.4.4 光学常数分析 | 第41-42页 | §3.5 电学特性分析 | 第42-44页 | §3.6 小结 | 第44-45页 | 参考文献 | 第45-46页 | 第四章 Ag/ITO/Ag多层薄膜的制备、微结构及其光电性能表征 | 第46-62页 | §4.1 Ag/ITO/Ag多层薄膜样品的制备 | 第46-47页 | §4.2 微结构分析 | 第47-49页 | §4.2.1 X射线衍射(XRD)表征 | 第47-49页 | §4.3 扫描电子显微镜(SEM)表征 | 第49-51页 | §4.3.1 利用SEM测试多层薄膜的表面形貌 | 第49-50页 | §4.3.2 利用SEM测试多层薄膜的断面形貌 | 第50-51页 | §4.4 膜厚测量 | 第51-52页 | §4.5 光学特性分析 | 第52-57页 | §4.5.1 透射光谱分析 | 第52-54页 | §4.5.2 反射光谱分析 | 第54-56页 | §4.5.3 吸收光谱分析 | 第56-57页 | §4.6 电学特性分析 | 第57-58页 | §4.7 效能因子和分光比 | 第58-60页 | §4.8 小结 | 第60-61页 | 参考文献 | 第61-62页 | 第五章 结论与后续工作展望 | 第62-64页 | 致谢 | 第64-65页 | 攻读硕士学位期间发表论文 | 第65页 |
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