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当前位置:教育论文中心首页--硕士论文--Ag/ITO/Ag多层薄膜的制备、微结构及光电性质表征
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Ag/ITO/Ag多层薄膜的制备、微结构及光电性质表征
 
     论文目录
 
摘要第1-5页
Abstract第5-7页
目录第7-9页
第一章 绪论第9-23页
 §1.1 引言第9-12页
 §1.2 国内外相关研究工作第12-19页
  §1.2.1 国外相关研究工作第12-15页
  §1.2.2 国内相关研究工作第15-19页
 §1.3 本文的选题依据和主要研究工作第19页
 §1.4 小结第19-20页
 参考文献第20-23页
第二章 底层Ag膜的制备、微结构及其光电性能表征第23-34页
 §2.1 研究底层Ag膜的意义第23页
 §2.2 薄膜样品制备第23-24页
  §2.2.1 基片的清洗第23-24页
  §2.2.2 底层Ag膜的制备第24页
 §2.3 微结构分析第24-26页
  §2.3.1 X射线衍射(XRD)表征第24-25页
  §2.3.2 扫描电子显微镜(SEM)表征第25-26页
 §2.4 膜厚测量第26-28页
  §2.4.1 表面轮廓仪测量膜厚第26-27页
  §2.4.2 椭偏解谱软件FilmWizard拟合透射光谱确定膜厚第27-28页
 §2.5 光学特性分析第28-31页
  §2.5.1 透射光谱分析第28-29页
  §2.5.2 反射光谱分析第29-30页
  §2.5.3 吸收光谱分析第30页
  §2.5.4 光学常数分析第30-31页
 §2.6 电学特性分析第31-32页
 §2.7 小结第32-33页
 参考文献第33-34页
第三章 ITO/Ag和Ag/ITO复合薄膜的制备、微结构及其光电性能表征第34-46页
 §3.1 Ag/ITO与ITO/Ag复合薄膜样品制备第34-35页
 §3.2 微结构分析第35-36页
 §3.3 膜厚测量第36-38页
  §3.3.1 表面轮廓仪测量膜厚第36-37页
  §3.3.2 椭偏解谱软件FilmWizard拟合透射光谱确定膜厚第37-38页
 §3.4 光学特性分析第38-42页
  §3.4.1 透射光谱分析第38-39页
  §3.4.2 反射光谱分析第39-40页
  §3.4.3 吸收光谱分析第40-41页
  §3.4.4 光学常数分析第41-42页
 §3.5 电学特性分析第42-44页
 §3.6 小结第44-45页
 参考文献第45-46页
第四章 Ag/ITO/Ag多层薄膜的制备、微结构及其光电性能表征第46-62页
 §4.1 Ag/ITO/Ag多层薄膜样品的制备第46-47页
 §4.2 微结构分析第47-49页
  §4.2.1 X射线衍射(XRD)表征第47-49页
 §4.3 扫描电子显微镜(SEM)表征第49-51页
  §4.3.1 利用SEM测试多层薄膜的表面形貌第49-50页
  §4.3.2 利用SEM测试多层薄膜的断面形貌第50-51页
 §4.4 膜厚测量第51-52页
 §4.5 光学特性分析第52-57页
  §4.5.1 透射光谱分析第52-54页
  §4.5.2 反射光谱分析第54-56页
  §4.5.3 吸收光谱分析第56-57页
 §4.6 电学特性分析第57-58页
 §4.7 效能因子和分光比第58-60页
 §4.8 小结第60-61页
 参考文献第61-62页
第五章 结论与后续工作展望第62-64页
致谢第64-65页
攻读硕士学位期间发表论文第65页

 
 
论文编号BS317440,这篇论文共65
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