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基于SRAM技术的现场可编程门阵列器件设计技术研究 |
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论文目录 |
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第一章 绪论 | 第1-21页 | 1.1 FPGA研究的意义及现状 | 第11-14页 | 1.1.1 快速增长的FPGA市场需求 | 第11-13页 | 1.1.2 FPGA技术的发展现状及趋势 | 第13-14页 | 1.2 编程技术 | 第14-18页 | 1.2.1 反熔丝编程技术 | 第15-16页 | 1.2.2 SRAM编程技术 | 第16-17页 | 1.2.3 EPROM和E~2PROM编程技术 | 第17页 | 1.2.4 FLASH编程技术 | 第17-18页 | 1.2.5 编程技术比较 | 第18页 | 1.3 本论文的研究内容和编排 | 第18-21页 | 第二章 FPGA器件的总体结构研究 | 第21-29页 | 2.1 FPGA总体结构 | 第21-26页 | 2.1.1 可编程逻辑单元结构 | 第21-24页 | 2.1.2 可编程布线结构 | 第24-26页 | 2.1.3 本文采用的FPGA总体结构 | 第26页 | 2.2 FPGA结构研究的CAD实验方法 | 第26-29页 | 第三章 FPGA的逻辑单元设计 | 第29-45页 | 3.1 LUT尺寸对FPGA面积和延迟的影响 | 第30-38页 | 3.1.1 LUT尺寸对面积的影响 | 第30-34页 | 3.1.2 LUT尺寸对性能的影响 | 第34-38页 | 3.1.3 本文采用的逻辑块结构 | 第38页 | 3.2 逻辑块管脚分布 | 第38-44页 | 3.2.1 实验方法 | 第39-40页 | 3.2.2 实验结果 | 第40-43页 | 3.2.3 每个逻辑管脚对应的物理管脚数 | 第43-44页 | 3.2.4 本文采用的逻辑块管脚分布 | 第44页 | 3.3 本章小结 | 第44-45页 | 第四章 面积驱动的FPGA全局布线结构研究 | 第45-71页 | 4.1 通道宽度的方向偏差和区域偏差 | 第46-54页 | 4.1.1 方向偏差 | 第46-47页 | 4.1.2 区域偏差 | 第47-54页 | 4.2 互连长度估计技术 | 第54-66页 | 4.2.1 Rent定律 | 第54-56页 | 4.2.2 Donath平均互连长度估计技术 | 第56-58页 | 4.2.3 Donath模型高估平均互连长度的原因及修正 | 第58-62页 | 4.2.4 考虑外部连接的互连长度估计模型 | 第62-66页 | 4.3 通道宽度设计 | 第66-69页 | 4.3.1 Gamal模型 | 第66-67页 | 4.3.2 基于总导线长度的通道宽度预测模型 | 第67-69页 | 4.3.3 本文FPGA器件中通道宽度的设计 | 第69页 | 4.4 本章小结 | 第69-71页 | 第五章 FPGA局部布线结构研究 | 第71-86页 | 5.1 连接块的设计 | 第72-73页 | 5.2 开关块的设计 | 第73-79页 | 5.2.1 三种不同类型的开关块 | 第74-75页 | 5.2.2 单一开关块的评估 | 第75-76页 | 5.2.3 CAD评估 | 第76-79页 | 5.3 蒙特卡罗方法 | 第79-85页 | 5.3.1 CAD方法 | 第79-80页 | 5.3.2 蒙特卡罗法 | 第80-83页 | 5.3.3 应用实例:开关块拓扑分析 | 第83-85页 | 5.4 本章小结 | 第85-86页 | 第六章 FPGA器件的物理设计 | 第86-98页 | 6.1 布线资源 | 第86-89页 | 6.1.1 可编程布线资源 | 第86-88页 | 6.1.2 全局时钟分布线网 | 第88-89页 | 6.2 可编程IO单元 | 第89-91页 | 6.2.1 可编程IO单元结构 | 第90页 | 6.2.2 单位逻辑块的可编程IO数目 | 第90-91页 | 6.3 编程结构 | 第91-95页 | 6.3.1 数据的写入和读出 | 第92-93页 | 6.3.2 SRAM单元结构 | 第93-95页 | 6.4 FPGA器件版图和芯片 | 第95-97页 | 6.5 本章小结 | 第97-98页 | 第七章 FPGA器件测试方法研究 | 第98-110页 | 7.1 逻辑单元阵列中缺陷的测试 | 第99-101页 | 7.1.1 多路选择器的测试 | 第100页 | 7.1.2 LUT的测试 | 第100-101页 | 7.2 布线资源中缺陷的测试 | 第101-107页 | 7.2.1 检测测试 | 第101-103页 | 7.2.2 诊断测试 | 第103-105页 | 7.2.3 FPGA互连中阻性短路的测试 | 第105-107页 | 7.3 功能测试 | 第107-109页 | 7.4 本章小结 | 第109-110页 | 第八章 结束语 | 第110-113页 | 致谢 | 第113-114页 | 参考文献 | 第114-122页 | 作者在攻读博士学位期间的研究成果 | 第122-124页 | 附录A | 第124-125页 | 附录B | 第125-133页 |
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