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当前位置:教育论文中心首页--博士论文--BESⅢ实验D介子半轻衰变中对a0(980)的寻找及D0辐射衰变分支比的测量
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BESⅢ实验D介子半轻衰变中对a0(980)的寻找及D0辐射衰变分支比的测量
 
     论文目录
 
摘要第4-6页
Abstract第6-8页
第一章 引言第18-30页
    1.1 粒子物理学引导第18页
    1.2 标准模型简介第18-21页
    1.3 粲物理简介第21-25页
        1.3.1 J/Ψ粒子和粲夸克的发现第21-22页
        1.3.2 D介子的发现第22页
        1.3.3 D介子物理简介第22-25页
    1.4 1 GeV/c~2质量以下的轻标量介子第25-27页
    1.5 论文结构第27-28页
    1.6 本章小结第28-30页
第二章 实验设备第30-44页
    2.1 BEPCⅡ简介第30-33页
    2.2 BESⅢ探测器简介第33-39页
        2.2.1 束流管第34-35页
        2.2.2 多层结构漂移室(MDC)第35-36页
        2.2.3 飞行时间计数器(TOF)第36页
        2.2.4 电磁量能器(EMC)第36-37页
        2.2.5 超导磁体(SMG)第37页
        2.2.6 μ子鉴别器(MUC)第37页
        2.2.7 触发判选系统(Trigger System)第37-38页
        2.2.8 在线数据获取系统(DAQ)第38-39页
    2.3 BESⅢ离线软件系统第39-42页
        2.3.1 BESⅡ离线软件系统框架第39-40页
        2.3.2 BESⅢ离线重建软件和探测器刻度系统第40-41页
        2.3.3 BESⅢ探测器模拟系统第41-42页
    2.4 本章小结第42-44页
第三章 D介子标记方法及常用标记模式研究第44-60页
    3.1 D介子标记方法简介第44-46页
    3.2 BESⅢ中D介子标记实现的软件系统简介第46-47页
        3.2.1 通用软件工具BesDChain第46-47页
        3.2.2 D介子标记工具DTagAlg第47页
    3.3 单标记D介子挑选第47-57页
        3.3.1 数据样本第48-49页
        3.3.2 带电粒子选择第49页
        3.3.3 中性粒子选择第49-50页
        3.3.4 单标记D介子选择第50-54页
        3.3.5 单标记效率第54-55页
        3.3.6 单标记事例产额的数据结果第55-57页
    3.4 本章小结第57-60页
第四章 D介子半轻衰变到a_0(980)的绝对分支比测量第60-94页
    4.1 选题动机第60-62页
    4.2 事例选择第62-64页
        4.2.1 末态辐射光子修正第63页
        4.2.2 D~0→a_0(980)~-e+v_e衰变候选者选择第63页
        4.2.3 D~+→a_0(980)~0e+v_e衰变候选者选择第63-64页
    4.3 本底分析第64-72页
        4.3.1 进阶的电子鉴别第65-66页
        4.3.2 D~0→a_0(980)~-e+v_e本底分析第66-69页
        4.3.3 D~+→a_0(980)~0e+v_e本底分析第69-72页
    4.4 信号效率第72-74页
    4.5 测量结果第74-79页
        4.5.1 半轻子衰变D~0→a_0(980)~-e+v_e分支比第76-77页
        4.5.2 半轻子衰变D~+→a_0(980)~0e+v_e分支比和90%置信度下的上限第77-79页
    4.6 一致性检查第79-82页
        4.6.1 电荷共轭检查第79-80页
        4.6.2 输入输出检查第80-82页
    4.7 系统误差分析第82-92页
        4.7.1 带电径迹寻迹效率误差第83页
        4.7.2 粒子鉴别效率误差第83页
        4.7.3 FSR修正效率误差第83-84页
        4.7.4 η和π~0的重建效率误差第84页
        4.7.5 最优ηπ~0组合选择的误差第84-85页
        4.7.6 EMC簇射形状(LAT)条件的效率误差第85页
        4.7.7 半轻子衰变过程形状因子误差第85页
        4.7.8 η和π~0衰变分支比误差第85-88页
        4.7.9 MC样本统计量误差第88页
        4.7.10 U分辨率的误差第88-90页
        4.7.11 a_0(980)拟合模型误差第90页
        4.7.12 本底过程的拟合模型误差第90页
        4.7.13 系统误差总结第90-92页
    4.8 本章小结第92-94页
第五章 D~0辐射衰变分支比测量第94-108页
    5.1 选题动机第94-95页
    5.2 事例选择和信号效率第95-100页
        5.2.1 D~0→γK~(*0)衰变候选者选择第96-98页
        5.2.2 D~0→γΦ衰变候选者选择第98-99页
        5.2.3 信号效率第99-100页
    5.3 测量结果第100-102页
        5.3.1 辐射衰变D~0→ γK~(*0)分支比第100-101页
        5.3.2 辐射衰变D~0→γΦ分支比第101-102页
    5.4 输入输出检查第102-104页
    5.5 初步的系统误差第104-107页
    5.6 本章小结第107-108页
第六章 总结和展望第108-112页
参考文献第112-120页
致谢第120-122页

 
 
论文编号BS4011042,这篇论文共122
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