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刮膜式分子蒸馏过程的故障检测及混沌系统控制方法研究 |
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| 摘要 | 第4-5页 | | Abstract | 第5-9页 | | 第1章绪论 | 第9-16页 | | 1.1课题研究背景及意义 | 第9-11页 | | 1.1.1故障诊断的必要性 | 第9页 | | 1.1.2本课题的研究意义 | 第9-11页 | | 1.2故障诊断方法的国内外研究现状 | 第11-14页 | | 1.2.1过程监控的内容 | 第11页 | | 1.2.2故障诊断方法的国内外研究现状 | 第11-14页 | | 1.3无刷直流电机混沌控制技术的国内外研究现状 | 第14-15页 | | 1.4本文主要内容及章节安排 | 第15-16页 | | 第2章基于主元分析法的刮膜蒸发过程故障检测 | 第16-33页 | | 2.1刮膜式分子蒸馏过程简介 | 第16-20页 | | 2.1.1分子蒸馏技术原理 | 第16-17页 | | 2.1.2分子蒸馏系统主要组成部分 | 第17-18页 | | 2.1.3刮膜蒸发过程的工艺参数 | 第18-20页 | | 2.2主元分析法的基本原理 | 第20-23页 | | 2.2.1主元分析的基本思想 | 第20-21页 | | 2.2.2主元分析的监测模型 | 第21-22页 | | 2.2.3主元分析的故障检测 | 第22-23页 | | 2.3主元个数的选取方法 | 第23-26页 | | 2.3.1传统主元个数的选取方法 | 第23-24页 | | 2.3.2故障信噪比确定模型 | 第24-26页 | | 2.4基于主元分析的故障检测过程 | 第26-27页 | | 2.5仿真实验对比分析 | 第27-32页 | | 2.6本章小结 | 第32-33页 | | 第3章改进主元分析法的刮膜蒸发过程故障检测 | 第33-43页 | | 3.1改进主元分析法 | 第33-35页 | | 3.2故障的可检测性分析 | 第35-37页 | | 3.2.1可检测性的必要条件 | 第35-36页 | | 3.2.2可检测性的充分条件 | 第36-37页 | | 3.3改进主元分析的故障检测过程 | 第37页 | | 3.4仿真实验对比分析 | 第37-41页 | | 3.4.1工况参数变化的研究 | 第37-38页 | | 3.4.2微小故障的研究 | 第38-41页 | | 3.5本章小结 | 第41-43页 | | 第4章刮膜电机混沌系统的非线性控制方法 | 第43-65页 | | 4.1无刷直流电机的混沌特性分析 | 第43-46页 | | 4.1.1无刷直流电机的数学模型 | 第43-44页 | | 4.1.2混沌的重要特征 | 第44-46页 | | 4.2基于延时控制器的无刷直流电机混沌控制 | 第46-51页 | | 4.2.2延时控制器的设计 | 第46-48页 | | 4.2.3监督开关延时估计控制器的设计 | 第48-50页 | | 4.2.4仿真实验 | 第50-51页 | | 4.3基于SFNN的无刷直流电机混沌同步 | 第51-64页 | | 4.3.1SFNN的基本原理 | 第52-55页 | | 4.3.2设计SFNN辨识器和鲁棒控制器 | 第55-60页 | | 4.3.3仿真实验 | 第60-64页 | | 4.4本章小结 | 第64-65页 | | 第5章结论 | 第65-67页 | | 5.1总结 | 第65-66页 | | 5.2展望 | 第66-67页 | | 致谢 | 第67-68页 | | 参考文献 | 第68-72页 | | 作者简介 | 第72-73页 | | 攻读硕士学位期间研究成果 | 第73页 |
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论文编号BS4739044，这篇论文共73页
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