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单频机制穿透雷达成像的干涉条纹现象与抑制技术研究 |
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论文目录 |
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表目录 | 第1-7页 | 图目录 | 第7-9页 | 摘要 | 第9-11页 | Abstract | 第11-13页 | 第一章 绪论 | 第13-22页 | ·研究背景和意义 | 第13页 | ·单频机制穿透雷达技术发展概况 | 第13-17页 | ·干涉条纹现象研究现状 | 第17-20页 | ·单频机制穿透雷达的干涉条纹与相干斑 | 第17-18页 | ·与干涉条纹相关的研究 | 第18-20页 | ·论文主要研究内容 | 第20-22页 | 第二章 单频机制穿透雷达的近场电磁场理论推导 | 第22-31页 | ·引言 | 第22页 | ·电磁场理论——麦克斯韦方程及边界条件 | 第22-24页 | ·麦克斯韦方程组 | 第23页 | ·时变电磁场的边界条件 | 第23-24页 | ·穿透成像系统的喇叭天线近场求解 | 第24-29页 | ·H 面扇形喇叭天线辐射 | 第24-26页 | ·口径场求自由空间电磁场 | 第26-28页 | ·在介质表面反射和折射 | 第28-29页 | ·本章小结 | 第29-31页 | 第三章 单频机制穿透雷达的干涉条纹现象分析 | 第31-47页 | ·引言 | 第31页 | ·穿透成像实验中发现的干涉条纹现象 | 第31-32页 | ·基于点源辐射模型的干涉条纹产生机理分析 | 第32-38页 | ·光学的干涉条纹原理 | 第32-33页 | ·点源辐射模型的干涉条纹分析 | 第33-38页 | ·介质厚度的影响分析 | 第38-40页 | ·薄层介质的干涉条纹间距分析 | 第40-41页 | ·干涉条纹的电磁仿真结果分析 | 第41-45页 | ·本章小结 | 第45-47页 | 第四章 干涉条纹的抑制技术 | 第47-60页 | ·引言 | 第47页 | ·干涉条纹参数模型滤波器 | 第47-51页 | ·干涉条纹模型 | 第47-48页 | ·干涉条纹参数模型滤波器 | 第48-49页 | ·参数模型滤波器针对干涉条纹抑制处理 | 第49-51页 | ·干涉条纹的 FK 滤波器 | 第51-55页 | ·FK 变换理论 | 第51-52页 | ·干涉条纹的 FK 域特征分析 | 第52-53页 | ·干涉条纹 FK 滤波器 | 第53-55页 | ·FK 滤波器对干涉条纹抑制处理 | 第55页 | ·滤波器性能分析 | 第55-57页 | ·实测数据的干涉条纹抑制处理结果分析 | 第57-59页 | ·本章小结 | 第59-60页 | 结论与展望 | 第60-63页 | 致谢 | 第63-65页 | 参考文献 | 第65-69页 | 作者在学期间学术成果 | 第69页 |
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