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当前位置:教育论文中心首页--硕士论文--基于CMOS工艺的太赫兹成像读出电路阵列的研究
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基于CMOS工艺的太赫兹成像读出电路阵列的研究
 
     论文目录
 
摘要第1-6页
Abstract第6-9页
第1章 绪论第9-17页
   ·研究背景与意义第9-13页
     ·太赫兹技术简介第10-11页
     ·CMOS 技术优势第11-12页
     ·读出电路在成像系统中的位置和作用第12-13页
   ·太赫兹成像系统主要性能指标第13-14页
     ·响应率第13页
     ·等效噪声功率第13-14页
     ·动态范围第14页
     ·功耗第14页
   ·电子学太赫兹成像系统发展现状与趋势第14-16页
     ·相干检波成像第14-15页
     ·直接检波成像第15-16页
   ·论文主要内容和安排第16-17页
第2章 读出电路基础第17-32页
   ·FET 太赫兹检波原理第17-24页
     ·静态分析第17-18页
     ·非静态分析第18-21页
     ·响应率与等效噪声功率第21-22页
     ·读出电路要求第22-24页
   ·CMOS 像素结构选择第24-25页
   ·读出电路噪声分析第25-27页
     ·噪声来源第25-27页
     ·等效输入噪声源第27页
   ·MOS 管建模第27-31页
     ·MOS 管小信号模型第28-29页
     ·MOS 管噪声建模第29-31页
   ·本章小结第31-32页
第3章 读出电路单元设计第32-51页
   ·读出电路单元设计要求第32-34页
   ·前置读出放大器的设计第34-41页
     ·前置读出放大器结构分析第35-38页
     ·前置读出放大器噪声分析第38-41页
   ·采样保持电路的设计第41-44页
     ·相关双采样理论基础第42-43页
     ·基于开关电容的采样保持电路第43-44页
   ·输出缓冲级的设计第44-50页
   ·本章小结第50-51页
第4章 扫描寻址电路设计第51-56页
   ·行列选择移位寄存器设计第51-52页
   ·读出电路阵列总体时序第52-55页
   ·本章小结第55-56页
第5章 版图设计及后仿真第56-62页
   ·CMOS 集成电路版图设计第56-58页
     ·匹配性设计第56-57页
     ·寄生优化设计第57页
     ·可靠性设计第57-58页
   ·读出电路单元版图第58-59页
   ·数字控制电路版图设计第59-60页
   ·整体版图布局与后仿真第60-61页
   ·本章小结第61-62页
全文总结第62-63页
参考文献第63-67页
攻读学位期间发表的学术论文目录第67-68页
致谢第68页

 
论文编号BS2360505,这篇论文共68
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