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超高频射频识别阅读器集成技术研究
 
     论文目录
 
摘要第1-8页
Abstract第8-14页
第1章 绪论第14-25页
   ·研究背景第14-16页
   ·射频识别市场发展趋势第16页
   ·超高频射频识别阅读器的研发现状第16-19页
   ·论文主要贡献第19-20页
   ·论文组织结构和研究内容第20-21页
 参考文献第21-25页
第2章 超高频射频识别技术基础第25-34页
   ·射频识别技术第25-29页
     ·射频识别技术历史沿革第25-26页
     ·射频识别技术使用的频段第26-29页
   ·超高频射频识别技术第29-32页
     ·天线的电磁场分布第29-30页
     ·超高频射频识别系统中的防碰撞算法第30-31页
     ·超高频射频识别协议比较第31-32页
 参考文献第32-34页
第3章 直接变频超高频射频识别阅读器系统分析第34-67页
   ·系统结构第34-40页
     ·从通用无线收发机结构到超高频射频识别阅读器结构第34-39页
     ·正交直接变频阅读器系统第39-40页
   ·主要问题讨论第40-58页
     ·系统噪声系数第40-46页
       ·FM0、Miller编码的误码率第41-43页
       ·功率传输模型和系统噪声系数第43-46页
     ·前端线性度第46-48页
     ·振荡器相位噪声第48-54页
       ·发射机邻近信道功率抑制比提出的相位噪声要求第49-51页
       ·接收机抗邻道干扰与抗带内阻塞能力提出的相位噪声要求第51-54页
     ·建立时间第54-58页
   ·链路预算和系统仿真第58-63页
     ·链路预算第58-61页
     ·系统仿真第61-63页
   ·小结第63页
 参考文献第63-67页
第4章 超高频射频识别阅读器中关键电路设计第67-138页
   ·接收机射频前端电路设计第67-80页
     ·转换增益分析第69-70页
     ·噪声分析第70-73页
     ·直流偏移分析第73-75页
     ·电路设计第75-80页
   ·发射机射频前端电路设计第80-85页
     ·正交上变频器设计第81-82页
     ·预放大器设计第82-85页
   ·锁相环路设计第85-111页
     ·锁相环路分析与行为级仿真第85-92页
       ·连续时间线性相位分析模型第86-89页
       ·锁相环相位噪声分析第89-90页
       ·锁相环行为级仿真第90-92页
     ·小数分频锁相环杂散分析第92-94页
     ·低相位噪声压控振荡器设计第94-99页
     ·增量总和调制器设计第99-105页
       ·量化噪声整形第99-101页
       ·增量总和调制器结构与特点第101-105页
     ·其它电路设计第105-111页
       ·预分频器与主分频器第106-107页
       ·鉴频相器与电荷泵第107-109页
       ·环路滤波器第109-111页
   ·基带电路设计第111-131页
     ·基带滤波器设计第113-123页
       ·接收基带信道选择滤波器设计第113-121页
       ·直流消除电路设计第121页
       ·发射基带镜频抑制滤波器设计第121-123页
     ·可编程增益放大器设计第123-131页
       ·接收基带可编程增益放大器设计第125-128页
       ·发射基带可编程增益放大器设计第128-131页
   ·小结第131-132页
 参考文献第132-138页
第5章 超高频射频识别阅读器芯片侧试第138-162页
   ·芯片介绍与直流测试结果第138-140页
   ·阅读器测试平台与PCB设计介绍第140-143页
   ·射频前端性能测试第143-152页
     ·输出匹配特性测试第143-145页
     ·输入匹配特性测试第145-146页
     ·输出功率谱与相位噪声测试第146-149页
     ·接收线性度测试第149-150页
     ·接收噪声系数测试第150-152页
   ·基带电路测试第152-155页
     ·接收基带电路增益控制测试第152-154页
     ·接收基带传输特性测试第154-155页
   ·其它测试第155-157页
     ·直流消除时间测试第155-157页
   ·完整测试第157-160页
     ·输出功率谱测试第157-158页
     ·标签读取测试第158-160页
   ·小结第160-161页
 参考文献第161-162页
第6章 总结与展望第162-166页
   ·总结第162-164页
   ·展望第164-165页
 参考文献第165-166页
附录第166-210页
 附录A 缩写与符号第166-169页
 附录B 论文中出现的图和表第169-177页
 附录C 阅读器芯片测试系统图第177-182页
 附录D 阅读器FPGA测试平台数字基带设计第182-200页
 附录E 芯片封装结构与管脚说明第200-203页
 附录F 芯片ESD方案与性能第203-206页
 附录G 重要的公式推导第206-208页
 附录H 论文、专利及参与项目列表第208-210页
致谢第210-211页

 
 
论文编号BS424605,这篇论文共211
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